| 符合条件的9条专利数据 | 专利状态 | 申请人类型 | 缴费截止日 | 授权年 | 更新时间 | |
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发明 201911011147X 一种高精度激光干涉仪（公示中） 光学测量 激光测量 波长测量 精密测量 激光干涉仪 2人 |
未下证 | 学校 | ||||
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发明 2020101137651 一种激光干涉位移测量装置及其使用方法 光学检测 激光测量 波长测量 精密测量 激光干涉仪 2人 |
未下证 | 学校 | ||||
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发明 2015102896795 一种对比式抗干扰微动角反射镜激光干涉仪及标定方法和测量方法 1人 |
已下证 | 学校 | ||||
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发明 2017102591141 一种基于光谱干涉装置的测量系统 光学测量 测量 精密测量 光学测量/测量/精密测量 已交 1人 |
已下证 | 企业 | ||||
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发明 2015108466451 一种采用波长修正式多光束角阶梯反射镜激光干涉仪的激光波长修正方法 精密仪器 精密测试仪器 激光器 激光测量系统 检测仪器 3人 |
已下证 | 学校 | ||||
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发明 2015108524137 一种采用激光波长修正式平面反射镜激光干涉仪的激光波长修正方法 精密仪器 精密测试仪器 激光器 激光测量系统 检测仪器 3人 |
已下证 | 学校 | ||||
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发明 2015103728388 一种磁性微位移平台式阶梯角反射镜激光干涉仪的标定方法和测量方法 精密仪器 精密测试仪器 激光器 激光测量系统 检测仪器 3人 |
已下证 | 学校 | ||||
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发明 201711237135X 数字全息三维显微系统以及彩色显微图像纹理的获取方法 三维显示 全息显示系统 数字影像系统 图像处理 软件 2人 |
已下证 | 企业 | ||||
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发明 201910340111X 一种激光干涉装置 测量技术 激光测量系统 激光测距 【测量技术 激光测量系统 激光测距】 1人 |
已下证 | 学校 |
