| 符合条件的4条专利数据 | 专利状态 | 申请人类型 | 缴费截止日 | 授权年 | 更新时间 | |
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发明 2019104403875 一种基于关键路径复制的电路最高工作频率测试方法 芯片设计 集成电路测试 半导体技术 1人 |
已下证 | 学校 | ||||
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发明 2020102796478 一种基于电场效应硅基内腔成形的方法 微纳米 硅基材料 激光加工 芯片 半导体 2人 |
已下证 | 学校 | ||||
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发明 202410020808X 正渗透膜的膜污染表征方法、装置、系统和电子设备 渗透膜 污染检测 环境废水净化 渗透膜/污染检测/环境废水净化 【渗透膜 污染检测 环境废水净化】 5人 |
已下证 | 学校 | ||||
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发明 2024104727964 优化空间利用率芯片设计方法及其芯片（芯片 半导体 集成电路 晶片 晶圆 晶体 电路板 pcb板） 芯片 半导体 集成电路 晶片 晶圆 1人 G06F30/392 G06F30/3315 G06F30/3947 G06F30/3953 G06F30/27 G06F18/231 G06F18/23213 G06N3/0464 G06N3/084 G06N3/096 G06F119/06 |
未下证 | 企业 |
