| 符合条件的3条专利数据 | 专利状态 | 申请人类型 | 缴费截止日 | 授权年 | 更新时间 | |
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发明 2024110860686 一种具有辐射干扰结构的半导体检测设备 半导体检测 半导体材料 集成电路 芯片检测 半导体封装 芯片封装 2人 |
未下证 | 企业 | ||||
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发明 2024104313545 一种定子综合测试设备及其方法 （定子测试 电机 电阻测试） 电机测试 绝缘电阻测试 2人 |
未下证 | 企业 | ||||
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发明 2018109316436 一种承接式电元件检测组件组装系统及其方法 1人 |
已下证 | 企业 |
