符合条件的2条专利数据 | 专利状态 | 申请人类型 | 缴费截止日 | 授权年 | 更新时间 | |
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发明 2020109754832 原子力显微测试系统及其样品台【特价】 显微镜 【显微镜】 2人 |
已下证 | 科研院所 | ||||
发明 2018104290887 一种表面纳米结构磁性测量方法 磁光克尔效应测量装置 材料磁畴测量 1人 |
已下证 | 学校 |