| 符合条件的3条专利数据 | 专利状态 | 申请人类型 | 缴费截止日 | 授权年 | 更新时间 | |
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发明 2019104451718 硅抛光片或外延片层错及位错缺陷的无损检测装置及方法（特价15） 硅抛光片 【硅抛光片】 外延片层错 检测 芯片 3人 |
已下证 | 企业 | ||||
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发明 201911313620X 一种全自动农药残留检测 2人 |
已下证 | 企业 | ||||
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实用 2019211320726 一种化妆品重金属检测装置 化妆品 美妆 【化妆品 美妆】 1人 |
已下证 | 企业 |
