| 符合条件的3条专利数据 | 专利状态 | 申请人类型 | 缴费截止日 | 授权年 | 更新时间 | |
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发明 2019111739537 一种基于干涉方式的激光波长测量装置与方法（公示中） 光学测量 激光测量 波长测量 精密测量 激光干涉仪 3人 |
未下证 | 学校 | ||||
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发明 2019112217799 一种利用干涉原理完成激光波长测量的装置与方法（公示中） 光学测量 激光测量 波长测量 精密测量 激光干涉仪 3人 |
未下证 | 学校 | ||||
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发明 2020100945463 一种采用激光干涉原理的实时波长检测装置及其使用方法（公示中） 光学测量 激光测量 波长测量 精密测量 激光干涉仪 2人 |
未下证 | 学校 |
