| 符合条件的2条专利数据 | 专利状态 | 申请人类型 | 缴费截止日 | 授权年 | 更新时间 | |
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发明 2020100985564 一种评估聚合物基自修复膜自修复能力的方法 复合材料评价 2人 G01N21/84 G01N23/04 G01N23/20 G01N23/2005 G01N1/28 G01N1/32 G01B11/30 G01B15/04 |
已下证 | 学校 | ||||
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发明 2024116181975 基于缺陷芯片的覆盖式轨迹检测装置及其检测方法 芯片检测 缺陷芯片 覆盖式 轨迹检测 集成电路 2人 |
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